ION-TOF
Компания
ION-TOF является европейским лидером по производству систем анализа поверхности. Среди выпускаемой продукции присутствует ряд
времяпролетных масс-спектрометров вторичных ионов (TOF-SIMS,
time-of-flight secondary ion mass spectrometer) и высокочувствительный
спектрометр рассеяния ионов с малой энергией (LEIS, low-energy ion
scattering).
Продукция компании ION-TOF имеет применение в широкой области
исследований различных типов образцов, начиная от металлов и
микроэлектроники и заканчивая молекулярной и клеточной биологиях.
С увеличением числа систем TOF-SIMS, установленных в лабораториях по
всему миру, их применение становится стандартом при поверхностных
исследованиях. В настоящее время по всему миру установлено и успешно
используется более 140 систем TOF-SIMS в промышленных и академических
лабораториях. Компания достигла успеха благодаря уникальным техническим
характеристикам приборов, производительности, превосходной технической
поддержке и глубокому пониманию особенностей применения и нужд
потребителей.
В 2007 году ряд продукции ION-TOF был дополнен высокочувствительным
спектрометром дифракции медленных ионов (LEIS). Продукция компании
ION-TOF находит широкое применение, начиная от исследований твердотельных
образцов и микроэлектроники до молекулярной и клеточной биологии.
Времяпролетная вторичная ионная масс-спектрометрии (TOF-SIMS) представляет собой методику исследования поверхностей с чрезвычайно высокой точностью и чувствительностью. Использование данной методики позволяет получать детальную информацию об элементном и молекулярном строении поверхностей, приповерхностных тонких слоях, контактах материалов различных типов, осуществлять комплексный трехмерный анализ образцов.
Qtac - высокочувствительный прибор, работающий на основе методики рассеяния ионов малых энергий (LEIS). Данная высокочувствительная к поверхности технология позволяет проводить поэлементную и структурную аттестацию верхнего атомного слоя образца.
Специально созданный для исследования, разработки и контроля качества сред магнитных накопителей и другого магнитного материала, ВР-МСМ (магнитно-силовой микроскоп высокого разрешения) является аналитической и количественной системой оптического отображения магнитного поля. Его особенно высокое расщепление линий в магнитном поле 10 мм или лучше согласуется с наилучшими результатами, полученными при помощи системы СЭМПА (Сканирующая электронная микроскопия с поляризационным анализом) на средах для магнитных дисков.
Данный АСМ (Атомно-силовой микроскоп) высокого разрешения с диаметром менее 25 мм. Он предлагает все общепринятые режимы измерения, такие как контактный режим и перемежающийся контактный режим, плюс контролируемый системой автоподстройки частоты истинно бесконтактный режим, и режим МСМ высокого разрешения.