121248, Москва,
Кутузовский проспект,
д. 9, корп. 2а, офис 77
+7 (499) 243-66-26
Аналитическое, лабораторное,
испытательное и технологическое
оборудование
Рус
Eng
Главная
Каталог по производителю
Каталог по применению
Семинары
Контакты
Главная
Каталог по применению
Анализ поверхности
Рентгеновская фотоэлектронная спектрометрия (РФС)
Вторичная Ионная Масс Спектрометрия (ВИМС, TOF SIMS)
Рассеяние медленных ионов (LEIS)
Сканирующая Электронная Микроскопия (СЭМ)
Двулучевая система (СЭМ + FIB)
Просвечивающая Электронная Микросокпия (ПЭМ)
Фокусированный ионный пучок
Физика плазмы
Криогенная техника и оптическая спектроскпия
Криогенная техника
Спектроскопия оптическая
Дифрактометрия (XRD)
белковые молекулы
малые молекулы
Термообработка
Биология
Селекция бактериальных колоний
Определение жизнеспособности клеток
Цитогенетика
Исследования клеток млекопитающих
Селекция культур клеток млекопитающих
Молекулярная биология
Патоморфологические исследования
В данном каталоге представлены возможные варианты применения представляемого оборудования.